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Caracterisation microstructurale des materiaux : analyse par les rayonnements X et electronique [texte imprimé] / Claude Esnouf . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires, 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Notes bibliogr. Index; Diff. en France Langues : Français (fre)
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