Analyse dans les espaces métriques / Hervé Pajot (DL 2018)

Public ISBD title : Analyse dans les espaces métriques Type de document : printed text Auteur : Hervé Pajot Editeur : Paris : CNRS EDITIONS Date de publication : DL 2018 Collection : Savoirs actuelsSavoirs actuels Nombre de pages : 1 vol. (II-423 p.) Ill. : ill. ; couv. ill. en coul. Dimensions : 23 cm ISBN (ou autre code) : 978-2-7598-2256-0 Note général : Bibliogr. et webliogr. p. 409-419. Index Langue : French (fre) Mots clé : Mesure, Théorie de la  Espaces métriques Indexation : 514.3 Résumé : L’analyse dans les espaces métriques est un domaine des mathématiques qui s’est beaucoup développé ces dernières années. Celui-ci a de nombreuses applications, en géométrie et en synthèse d’image par exemple. Ce livre, issu de plusieurs cours de Master 2 donnés à l’Université Grenoble Alpes, est destiné à un large public d’étudiants qui souhaitent aller au-delà des cours traditionnels d’analyse de niveau L3/M1, ainsi qu’à des chercheurs de divers domaines intéressés par les bases de l’analyse non lisse, notamment sur des espaces fractals. Le premier chapitre propose quelques compléments de théorie de la mesure et introduit plusieurs notions et outils fondamentaux, ainsi que le groupe de Heisenberg. Les trois autres chapitres présentent une description de l’état de l’art sur la théorie géométrique de la mesure, les espaces de Sobolev, les inégalités de Poincaré et la théorie quasi-conforme, le tout dans les espaces métriques généraux. La théorie classique dans les espaces euclidiens est revue au début de chacun de ceux-ci. Chaque chapitre du livre se termine par de nombreux exercices. Certains, donnant des compléments utiles au texte principal, sont inspirés d’articles de recherche récents. Analyse dans les espaces métriques [printed text] / Hervé Pajot . - Paris : CNRS EDITIONS, DL 2018 . - 1 vol. (II-423 p.) : ill. ; couv. ill. en coul. ; 23 cm. - (Savoirs actuelsSavoirs actuels) . ISBN : 978-2-7598-2256-0 Bibliogr. et webliogr. p. 409-419. Index Langue : French (fre) Mots clé : Mesure, Théorie de la  Espaces métriques Indexation : 514.3 Résumé : L’analyse dans les espaces métriques est un domaine des mathématiques qui s’est beaucoup développé ces dernières années. Celui-ci a de nombreuses applications, en géométrie et en synthèse d’image par exemple. Ce livre, issu de plusieurs cours de Master 2 donnés à l’Université Grenoble Alpes, est destiné à un large public d’étudiants qui souhaitent aller au-delà des cours traditionnels d’analyse de niveau L3/M1, ainsi qu’à des chercheurs de divers domaines intéressés par les bases de l’analyse non lisse, notamment sur des espaces fractals. Le premier chapitre propose quelques compléments de théorie de la mesure et introduit plusieurs notions et outils fondamentaux, ainsi que le groupe de Heisenberg. Les trois autres chapitres présentent une description de l’état de l’art sur la théorie géométrique de la mesure, les espaces de Sobolev, les inégalités de Poincaré et la théorie quasi-conforme, le tout dans les espaces métriques généraux. La théorie classique dans les espaces euclidiens est revue au début de chacun de ceux-ci. Chaque chapitre du livre se termine par de nombreux exercices. Certains, donnant des compléments utiles au texte principal, sont inspirés d’articles de recherche récents.

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Cours et Exercices d Analyse:Topologie,Analyse Fonctionnelle et Matricielle / Pierre Meunier (2014)

Public ISBD title : Cours et Exercices d Analyse:Topologie,Analyse Fonctionnelle et Matricielle : Mathematique Speciales MP-PSI*-CAPES-Agregation Type de document : printed text Auteur : Pierre Meunier, Author Editeur : Toulouse : Cépaduès Editions Date de publication : 2014 ISBN (ou autre code) : 978-2-36493-146-6 Langue : French (fre) Mots clé : espaces metriques et espaces normes Indexation : 514.3 Résumé : Cet ouvrage de Cours et exercices de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle a été rédigé à partir des exigences du programme et des questions posées aux écrits et aux oraux des concours d’entrée aux Grandes Écoles : X, ENS, Mines-Ponts... ; néanmoins un chapitre est consacré à des compléments concernant les espaces de Baire et leurs applications à l’analyse fonctionnelle, la distance de Hausdorff suivie de l’étude des fractales de Sierpinski, et les normes extrémales de Lie et Hahn-Pflug dans Cn. Les notions essentielles : compacité, complétude, connexité, continuité des applications linéaires et l’aspect fonctionnel des choses qu’elles induisent ont pour objet, dans ce recueil, de montrer que la topologie fournit un cadre universel et cohérent en analyse, sa présentation étant organisée selon les quatre chapitres suivants : • Espaces métriques et espaces normés (cours enseigné en Spé MP*), • Compléments de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle, • Exercices de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle, • Problèmes de révision extraits des sujets de concours. Dans tout ce recueil, et chaque fois que cela a été possible, certaines rubriques intégralement abordées, notamment au travers des théorèmes de projection orthogonale ou du théorème de Farkas-Minkowski, soulignent le rôle capital de la topologie en analyse numérique matricielle et en optimisation fonctionnelle ; enfin, la beauté géométrique et topologique des fractales de Sierpinski, illustre toute l’importance du théorème du point fixe montrant ainsi, s’il en était besoin, que les sciences mathématiques sont étroitement solidaires. Cours et Exercices d Analyse:Topologie,Analyse Fonctionnelle et Matricielle : Mathematique Speciales MP-PSI*-CAPES-Agregation [printed text] / Pierre Meunier, Author . - Toulouse : Cépaduès Editions, 2014. ISBN : 978-2-36493-146-6 Langue : French (fre) Mots clé : espaces metriques et espaces normes Indexation : 514.3 Résumé : Cet ouvrage de Cours et exercices de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle a été rédigé à partir des exigences du programme et des questions posées aux écrits et aux oraux des concours d’entrée aux Grandes Écoles : X, ENS, Mines-Ponts... ; néanmoins un chapitre est consacré à des compléments concernant les espaces de Baire et leurs applications à l’analyse fonctionnelle, la distance de Hausdorff suivie de l’étude des fractales de Sierpinski, et les normes extrémales de Lie et Hahn-Pflug dans Cn. Les notions essentielles : compacité, complétude, connexité, continuité des applications linéaires et l’aspect fonctionnel des choses qu’elles induisent ont pour objet, dans ce recueil, de montrer que la topologie fournit un cadre universel et cohérent en analyse, sa présentation étant organisée selon les quatre chapitres suivants : • Espaces métriques et espaces normés (cours enseigné en Spé MP*), • Compléments de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle, • Exercices de topologie et d’analyse fonctionnelle et matricielle, • Problèmes de révision extraits des sujets de concours. Dans tout ce recueil, et chaque fois que cela a été possible, certaines rubriques intégralement abordées, notamment au travers des théorèmes de projection orthogonale ou du théorème de Farkas-Minkowski, soulignent le rôle capital de la topologie en analyse numérique matricielle et en optimisation fonctionnelle ; enfin, la beauté géométrique et topologique des fractales de Sierpinski, illustre toute l’importance du théorème du point fixe montrant ainsi, s’il en était besoin, que les sciences mathématiques sont étroitement solidaires.

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Guide d'étalonnage des spectrophotomètres / Collège français de métrologie (cop. 2017)

Public ISBD title : Guide d'étalonnage des spectrophotomètres Type de document : printed text Auteur : Collège français de métrologie Editeur : La Plaine-Saint-Denis : AFNOR éditions Date de publication : cop. 2017 Autre Editeur : Paris : Collège français de métrologie Collection : Les guides techniques du Collège français de métrologie Nombre de pages : 1 vol. (80 p.) Ill. : ill. Dimensions : 30 cm ISBN (ou autre code) : 978-2-12-465605-9 Note général : Bibliogr. p. 72-73 Langue : French (fre) Mots clé : Spectrophotomètres  Spectrophotométrie Indexation : 514.3 Résumé : Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalonnage. Le guide a été rédigé de manière à ce que tout lecteur puisse comprendre le processus d'étalonnage expliqué. Le processus d'étalonnage est décrit puis illustré par des exemples concrets. Ce document apporte aux lecteurs des recommandations sur les bonnes pratiques concernant l'étalonnage des spectrophotomètres, sur un domaine allant de l'ultraviolet (UV - depuis 190 nm) au proche infrarouge (PIR - jusqu'à 2500 nm), en passant par le visible. Ce guide aborde exclusivement le domaine de la spectrophotométrie d'absorption moléculaire dispersive (UV-Visible, PIR) et ne traite pas des autres types de spectrophotométrie (colorimétrie, fluorescence, turbidimétrie, néphélométrie, spectrophotométrie d'absorption atomique...). Le périmètre est volontairement limité à la partie instrumentale. Ce guide a été rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Déjà publié par le CFM, il est aujourd'hui réédité par le CFM et AFNOR Éditions dans le cadre de la collection « Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie ». La collection « Les Guides techniques du Collège Français de Métrologie (CFM) » rassemble les ouvrages rédigés par des groupes de travail du CFM. Ces documents ont pour vocation de présenter les « bonnes pratiques » mises en place ou en cours de développement en entreprise dans des domaines très variés. Les ouvrages ont une dimension générale : l'optimisation des périodicités d'étalonnage, les incertitudes de mesure, ou l'audit de la métrologie. Ils peuvent aussi être appliqués à un secteur ou une grandeur : la métrologie dans les laboratoires de biologie médicale, l'humidité dans les gaz, l'étalonnage des spectrophotomètres. Guide d'étalonnage des spectrophotomètres [printed text] / Collège français de métrologie . - La Plaine-Saint-Denis : AFNOR éditions : Paris : Collège français de métrologie, cop. 2017 . - 1 vol. (80 p.) : ill. ; 30 cm. - (Les guides techniques du Collège français de métrologie) . ISBN : 978-2-12-465605-9 Bibliogr. p. 72-73 Langue : French (fre) Mots clé : Spectrophotomètres  Spectrophotométrie Indexation : 514.3 Résumé : Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalonnage. Le guide a été rédigé de manière à ce que tout lecteur puisse comprendre le processus d'étalonnage expliqué. Le processus d'étalonnage est décrit puis illustré par des exemples concrets. Ce document apporte aux lecteurs des recommandations sur les bonnes pratiques concernant l'étalonnage des spectrophotomètres, sur un domaine allant de l'ultraviolet (UV - depuis 190 nm) au proche infrarouge (PIR - jusqu'à 2500 nm), en passant par le visible. Ce guide aborde exclusivement le domaine de la spectrophotométrie d'absorption moléculaire dispersive (UV-Visible, PIR) et ne traite pas des autres types de spectrophotométrie (colorimétrie, fluorescence, turbidimétrie, néphélométrie, spectrophotométrie d'absorption atomique...). Le périmètre est volontairement limité à la partie instrumentale. Ce guide a été rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Déjà publié par le CFM, il est aujourd'hui réédité par le CFM et AFNOR Éditions dans le cadre de la collection « Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie ». La collection « Les Guides techniques du Collège Français de Métrologie (CFM) » rassemble les ouvrages rédigés par des groupes de travail du CFM. Ces documents ont pour vocation de présenter les « bonnes pratiques » mises en place ou en cours de développement en entreprise dans des domaines très variés. Les ouvrages ont une dimension générale : l'optimisation des périodicités d'étalonnage, les incertitudes de mesure, ou l'audit de la métrologie. Ils peuvent aussi être appliqués à un secteur ou une grandeur : la métrologie dans les laboratoires de biologie médicale, l'humidité dans les gaz, l'étalonnage des spectrophotomètres.

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Guide d'étalonnage des spectrophotomètres [Texte imprimé] / Collège français de métrologie. (2014)

Public ISBD title : Guide d'étalonnage des spectrophotomètres [Texte imprimé] Type de document : printed text Auteur : Collège français de métrologie. Mention d'édition : Nouv. éd. Editeur : Paris : Collège français de métrologie Date de publication : 2014 Autre Editeur : Lexitis éditions Collection : Les guides techniques Texte imprimé Nombre de pages : 84 p. Ill. : ill., couv. ill. en coul. Dimensions : 30 cm ISBN (ou autre code) : 978-2-36233-120-6 Note général : Bibliogr. p. 76-77 Langue : French (fre) Mots clé : Spectrophotomètres -- Étalonnage Chimie analytique Incertitude de mesure Incertitude de mesure Indexation : 514.3 Résumé : Ce guide est un nouvel ouvrage rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Il est aujourd'hui édité par le CFM et Lexitis dans le cadre de la collection "Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie". Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalonnage. Le guide a été rédigé de manière à ce que tout lecteur puisse comprendre le processus d'étalonnage. Le processus d'étalonnage est décrit puis illustré par des exemples concrets. Ce document apporte aux lecteurs des recommandations sur les bonnes pratiques concernant l'étalonnage des spectrophotomètres, sur un domaine allant de l'ultraviolet (UV - depuis 190 nm) au proche infrarouge (PIR - jusqu'à 2500 nm), en passant par le visible. Ce guide aborde exclusivement le domaine de la spectrophotométrie d'absorption moléculaire dispersive (UV-Visible, PIR) et ne traite pas des autres types de spectrophotométrie (colorimétrie, fluorescence, turbidimétrie, néphélométrie, spectrophotométrie d'absorption atomique). Le périmètre est volontairement limité à la partie instrumentale. Guide d'étalonnage des spectrophotomètres [Texte imprimé] [printed text] / Collège français de métrologie.  . -  Nouv. éd. . - Paris : Collège français de métrologie : Lexitis éditions, 2014 . - 84 p. : ill., couv. ill. en coul. ; 30 cm. - (Les guides techniques Texte imprimé) . ISBN : 978-2-36233-120-6 Bibliogr. p. 76-77 Langue : French (fre) Mots clé : Spectrophotomètres -- Étalonnage Chimie analytique Incertitude de mesure Incertitude de mesure Indexation : 514.3 Résumé : Ce guide est un nouvel ouvrage rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Il est aujourd'hui édité par le CFM et Lexitis dans le cadre de la collection "Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie". Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalonnage. Le guide a été rédigé de manière à ce que tout lecteur puisse comprendre le processus d'étalonnage. Le processus d'étalonnage est décrit puis illustré par des exemples concrets. Ce document apporte aux lecteurs des recommandations sur les bonnes pratiques concernant l'étalonnage des spectrophotomètres, sur un domaine allant de l'ultraviolet (UV - depuis 190 nm) au proche infrarouge (PIR - jusqu'à 2500 nm), en passant par le visible. Ce guide aborde exclusivement le domaine de la spectrophotométrie d'absorption moléculaire dispersive (UV-Visible, PIR) et ne traite pas des autres types de spectrophotométrie (colorimétrie, fluorescence, turbidimétrie, néphélométrie, spectrophotométrie d'absorption atomique). Le périmètre est volontairement limité à la partie instrumentale.

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Specrometrie de Masse / Edmond de HOFFMANN (2005)

Public ISBD title : Specrometrie de Masse : 3e Edition Type de document : printed text Auteur : Edmond de HOFFMANN, Author ; Vincent STROOBANT, Author Editeur : Paris : Dunod Date de publication : 2005 ISBN (ou autre code) : 978-2-10-049449-1 Langue : French (fre) Mots clé : shema du spectrometre de masse Indexation : 514.3 Résumé : La spectrométrie de masse est une méthode analytique qui trouve des applications dans de nombreux domaines : cinétiques des réactions, physique atomique, détermination de paramètres thermodynamiques, étude de pollutions de l'environnement... L'ouvrage présente tout d'abord les principes de base puis comment interpréter les spectres. De très nombreux exemples illustrent le cours et des exercices corrigés permettent de s'entraîner. Specrometrie de Masse : 3e Edition [printed text] / Edmond de HOFFMANN, Author ; Vincent STROOBANT, Author . - Paris : Dunod, 2005. ISBN : 978-2-10-049449-1 Langue : French (fre) Mots clé : shema du spectrometre de masse Indexation : 514.3 Résumé : La spectrométrie de masse est une méthode analytique qui trouve des applications dans de nombreux domaines : cinétiques des réactions, physique atomique, détermination de paramètres thermodynamiques, étude de pollutions de l'environnement... L'ouvrage présente tout d'abord les principes de base puis comment interpréter les spectres. De très nombreux exemples illustrent le cours et des exercices corrigés permettent de s'entraîner.

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